PAI E FILHO DETIDOS POR FALSIFICAÇÃO DE VISTO DE VIAGEM 

Dois cidadãos de 52 e 17 anos de idade foram detidos pelo Serviço de Investigação Criminal no Aeroporto Internacional ‘4 de Fevereiro’ em Luanda, o facto aconteceu este domingo 17 de Julho.

Segundo o SIC, trata-se de dois cidadãos de nacionalidade angolana que tinham como destino a cidade de São Paulo Brasil, o flagrante acorreu quando os acusados cumpriam o protocolo de embarque no check-in da TAAG, Linhas aéreas de Angola, companhia de bandeira Nacional no Aeroporto Internacional de Luanda.

Na sequência da certificação da documentação dos dois viajantes, o sistema de segurança do aeroporto detectou ilegibilidade no visto de viagem do passaporte do menor de 17 anos, em seguida o serviço de segurança interna acionou ao Departamento de Investigação Criminal do Aeroporto em referência que de imediato cumpriu o seu papel.

Após o apuramento das factos probatórios que apontam o pai do menor como cúmplice da falsificação do visto, em colação de um suposto agente de viagem, o Serviço de Investigação Criminal deteve os dois acusados por se tratar de um crime de falsificação de documentos, punível por lei.

Os dois cidadãos nacionais já à contas com a justiça serão entregues ao Tribunal para o julgamento que se impõe.

Fonte: AngolaNews